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Contenu associé à ARDI
ARDI offre un accès à la littérature savante provenant de divers domaines de la science et de la technologie. Il favorise l’intégration des pays en développement et des pays les moins avancés dans l’économie mondiale du savoir, en renforçant l’infrastructure du savoir et en aidant les chercheurs à créer et à développer de nouvelles solutions aux défis techniques aux niveaux local et mondial.
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(Revues)
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! Optical Metro Networks and Short-Haul Systems II
Editor(s):
Weiershausen, Werner
Éditeurs:
SPIE Digital Library
ISBN: 9780819480170
Date de Publication:
2010
Revues
! Optical Metro Networks and Short-Haul Systems III
Editor(s):
Weiershausen, Werner
Éditeurs:
SPIE Digital Library
ISBN: 9780819484963
Date de Publication:
2011
Revues
! Optical Metro Networks and Short-Haul Systems IV
Editor(s):
Weiershausen, Werner
Éditeurs:
SPIE Digital Library
ISBN: 9780819489265
Date de Publication:
2011
Revues
! Optical Metro Networks and Short-Haul Systems IX
Editor(s):
Srivastava, Atul
Éditeurs:
SPIE Digital Library
ISBN: 9781510606999
Date de Publication:
2017
Revues
! Optical Metro Networks and Short-Haul Systems V
Editor(s):
Weiershausen, Werner
Éditeurs:
SPIE Digital Library
ISBN: 9780819494153
Date de Publication:
2012
Revues
! Optical Metro Networks and Short-Haul Systems VI
Editor(s):
Weiershausen, Werner
Éditeurs:
SPIE Digital Library
ISBN: 9780819499219
Date de Publication:
2013
Revues
! Optical Metro Networks and Short-Haul Systems VII
Editor(s):
Srivastava, Atul
Éditeurs:
SPIE Digital Library
ISBN: 9781628414783
Date de Publication:
2015
Revues
! Optical Metro Networks and Short-Haul Systems VIII
Editor(s):
Srivastava, Atul
Éditeurs:
SPIE Digital Library
ISBN: 9781510600089
Date de Publication:
2016
Revues
! Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications
Editor(s):
Harding, Kevin
Éditeurs:
SPIE Digital Library
ISBN: 9780819483850
Date de Publication:
2010
Revues
! Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications II
Editor(s):
Harding, Kevin
Éditeurs:
SPIE Digital Library
ISBN: 9780819493187
Date de Publication:
2013
Revues
! Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications III
Editor(s):
Han, Sen
Éditeurs:
SPIE Digital Library
ISBN: 9781628413496
Date de Publication:
2014
Revues
! Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications IV
Editor(s):
Han, Sen
Éditeurs:
SPIE Digital Library
ISBN: 9781510604650
Date de Publication:
2016
Revues
! Optical Metrology and Inspection for Industrial Applications V
Editor(s):
Han, Sen
Éditeurs:
SPIE Digital Library
ISBN: 9781510622364
Date de Publication:
2018
Revues
! Optical Metrology for Arts and Multimedia
Editor(s):
Salimbeni, Renzo
Éditeurs:
SPIE Digital Library
ISBN: 9780819450166
Date de Publication:
2003
Revues
! Optical Metrology in Production Engineering
Editor(s):
Osten, Wolfgang
Éditeurs:
SPIE Digital Library
ISBN: 9780819453792
Date de Publication:
2004
Revues
! Optical Metrology Roadmap for the Semiconductor, Optical, and Data Storage Industries
Editor(s):
Al-Jumaily, Ghanim
Éditeurs:
SPIE Digital Library
ISBN: 9780819437440
Date de Publication:
2000
Revues
! Optical Metrology Roadmap for the Semiconductor, Optical, and Data Storage Industries II
Editor(s):
Duparré, Angela
Éditeurs:
SPIE Digital Library
ISBN: 9780819441638
Date de Publication:
2001
Revues
! Optical Metrology: A Critical Review
Editor(s):
Al-Jumaily, Ghanim
Éditeurs:
SPIE Digital Library
E-ISBN: 9781510610521
Date de Publication:
6360
Revues
! Optical Micro- and Nanometrology III
Editor(s):
Gorecki, Christophe
Éditeurs:
SPIE Digital Library
ISBN: 9780819481917
Date de Publication:
2010
Revues
! Optical Micro- and Nanometrology in Manufacturing Technology
Editor(s):
Gorecki, Christophe
Éditeurs:
SPIE Digital Library
ISBN: 9780819453808
Date de Publication:
2004
Revues
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